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渦流相位測(cè)量方法的探頭K6-C的PH1系列探頭
日期：2026-03-14 07:53
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摘要：用于測(cè)量鋼基材上的電鍍鎳。渦流相位測(cè)量方法的探頭K6-C的PH1系列探頭包含一個(gè)“涂層/基體”特性曲線。注：在一定情況下，可測(cè)量非導(dǎo)電涂層下方的電鍍涂層。
渦流相位測(cè)量方法的探頭K6-C的PH1系列探頭包含一個(gè)“涂層/基體”特性曲線。
PH1
用于測(cè)量鋼基材上的電鍍鎳。
技術(shù)特點(diǎn)：
測(cè)量范圍：0-300μm；深圳市時(shí)代之峰科技有限公司 電話：0755-83982139 網(wǎng)址： http://m.gudage.cn
測(cè)量精度：≤±(0.03T+1)μm；
*小基底直徑：Φ1mm；
測(cè)量區(qū)域直徑：Φ4.7mm；
探頭外形尺寸：Φ12 ×40mm；
注：在一定情況下，可測(cè)量非導(dǎo)電涂層下方的電鍍涂層。
